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老化测试插座产品

老化测试座的特点:

  • 提供多种BGA,QFN/CSP,QFP,LCC,PLCC,SO,SOJ和SSOP老化测试座。
  • 多种适用于QFN无引脚器件的老化测试座。
  • 敞口式表面贴装器件老化插座和敞口式BGA插座。
  • 多种外形的插座备选,交货快捷。

如果您对老化测试插座有兴趣或是想得到有关老化测试插座的技术资料,请与我们联络

老化测试座产品图片:

Open-top BGA Sockets
BGA老化测试座(Open-top BGA Sockets
)
QFN/CSP Sockets
QFN老化测试座(QFN/CSP Sockets)
uPGA(Micro PGA) Sockets
uPGA老化测试座(uPGA(Micro PGA) Sockets)
Land Grid Array (LGA) Sockets
LGA(触点阵列封装)老化测试插座(Land Grid Array (LGA) Sockets)
PLCC Sockets
PLCC老化测试插座(PLCC Sockets)
LCC Sockets
LCC老化测试插座(LCC Sockets)
SO Sockets
SO老化测试插座(SO Sockets)
QFP/TQFP Sockets
QFP/TQFP老化测试插座(QFP/TQFP Sockets)
SOJ Sockets
SOJ老化测试插座(SOJ Sockets)
SSOP Sockets
SSOP老化测试插座(SSOP Sockets)